產(chǎn)品列表
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HITACHI EA1200VX X射線熒光光譜儀的詳細(xì)資料:
EA1200VX采用高計(jì)數(shù)率設(shè)計(jì)的Vortex高分辨率之硅半導(dǎo)體多陰極檢測器,計(jì)數(shù)率可達(dá)150,000 cps,是一般檢測器的15~20倍,能接受更多的X?zé)晒庥嵦?,針對合金或塑料高分子中主成分及微?/span>元素分析的應(yīng)用。
特點(diǎn)
◆高階Vortex SDD檢測器 ◆快速分析縮短檢測時(shí)間
◆高檢測率 高精準(zhǔn)度 ◆計(jì)算機(jī)控制五種濾波器
◆元素分析范圍(鈉Na-鈾U) ◆CCD超高分辨率圖像
◆電激發(fā)50KV-1mA(15KV、30KV、40KV、50KV)
◆準(zhǔn)直器面積自動(dòng)切換1mm、8mm
測定元素 | 原子編號 11 (Na) ~ 83 (U) |
樣品形態(tài) | 固體,粉末,液體 |
X光管 | 小型空冷式X射線管球(Rh靶) |
管電壓: 15kV, 30kV, 40kV, 50kV 管電流:1mA | |
檢測器 | Si 半導(dǎo)體檢測器 (無需液態(tài)氮) |
準(zhǔn)直器 | 1mm, 5mm自動(dòng)切換 |
樣品觀察 | 彩色CCD攝像頭 |
濾波器 | 5種模式自動(dòng)切換 |
樣品室 | 430(W)*320(D)*209(H)mm |
X-ray Station | 筆記本電腦或桌面計(jì)算機(jī) |
(OS; MS-windows XP) | |
打印機(jī)(選購) | 噴墨打印機(jī) |
定性分析功能 | 能譜測定,自動(dòng)辨別,圖譜比對 |
定量分析功能 | KLM 標(biāo)示表示,,差異表示,塊體FP法,標(biāo)準(zhǔn)曲線法 |
統(tǒng)計(jì)處理功能 | MS-EXCEL |
報(bào)告制作 | MS-WORD |
設(shè)置尺寸 | 1080(W)*750(D)*810(H)mm(不含打印機(jī)) |
重量 | 90kg |
使用電源 | AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A |
選購 | 有害物質(zhì)判定軟件 |
能譜匹配軟件(材料判定) | |
薄膜標(biāo)準(zhǔn)曲線軟件 | |
樣品進(jìn)樣器 | |
準(zhǔn)直器: 3mmΦ | |
真空泵(輕元素分析用) | |
標(biāo)準(zhǔn)品 (金屬電鍍薄膜厚度標(biāo)樣, RoHS標(biāo)樣) |
RoHS/WEEE |
(1)滿足歐盟RoHS指令,以及各國針對電子電機(jī)產(chǎn)品中有有害物質(zhì)含量的快速檢測分析,例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。 |
合金分析 |
(1)金屬材料質(zhì)量控管 :合金中主成份的快速分析。 (4)金屬回收與分類 : 依金屬成份含量做分類 |
油品分析 |
(1)燃料中的硫含量對環(huán)境的影響 : XRF 為zui有效檢測燃料中硫成份的工具(依據(jù)ASTM D4294) |
鍍層厚度分析 |
(1)分析電子部品電鍍層的厚度 |
環(huán)境分析 |
(1)可針對土壤、污泥、灰渣等進(jìn)行快速有害物質(zhì)的成分鑒定。 |
其他 |
(1)考古學(xué)古物分析 : 古物年代鑒定 (3)藝術(shù)品修復(fù) : 顏料中金屬成份分析 |
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