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    特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性；

X射線熒光光譜儀介紹

EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業(yè)等對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性；利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類更準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。

X射線熒光光譜儀性能特點

專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
同時分析元素：24種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度測量zui薄至0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05% 
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體 
測量時間：60s—200s  
能量分辨率為：（150±5）eV  
管壓：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA

標準配置

電制冷UHRD探測器

信噪比增強器 
光路增強系統(tǒng) 
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片 
精準的升降平臺 
加強的金屬元素感度分析器

應用領域

鋼鐵和有色金屬檢測 
水泥檢測 
礦料分析 
粉末冶金成分分析
磁性材料半成品、成品在線控制