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X熒光光譜儀優(yōu)缺點及用途
點擊次數(shù):3663 更新時間:2012-05-30
  X熒光光譜儀優(yōu)點  
  a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素?! ?br />  b)X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。  
  c)非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好?! ?br />  d)X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。  
  e)分析精密度高?! ?br />  f)制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析?!?br />  X熒光光譜儀缺點 
  a)難于作分析,故定量分析需要標(biāo)樣?!?br />  b)對輕元素的靈敏度要低一些。
  c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響?!?br />  X熒光光譜儀主要用途 
  X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息?!?br />  近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得zui多也zui廣泛?!?br />  大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
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