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XRF
點(diǎn)擊次數(shù):1882 更新時(shí)間:2019-06-14
 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x,又稱(chēng)金屬涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀。
X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波??梢暪饩€(xiàn)的波長(zhǎng)為0.000001 m (1μm)左右。
對(duì)某物質(zhì)進(jìn)行X射線(xiàn)照射時(shí),可以觀測(cè)到主要以下3種X射線(xiàn)。
(1) 螢光X射線(xiàn)
(2) 散亂X射線(xiàn)
(3) 透過(guò)X射線(xiàn)
的產(chǎn)品是利用螢光X射線(xiàn)得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線(xiàn)法原理。和螢光X射線(xiàn)分析裝置一樣被使用的X射線(xiàn)衍射裝置是利用散亂X射線(xiàn)得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線(xiàn)多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線(xiàn)的種類(lèi)
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